表面测量仪器
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MarSurf XR 1 计算机式粗糙度测量单元

  • 超过 80 种符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓, 带通滤波器 Ls 符合当前标准;Ls 也可根据需要关闭或更改。 全面的测量记录,快速创建 Quick&Easy 测量程序的 Teach-in 方法,根据标准选择截止和扫描长度的自动功能(专利)。 通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种校准方法(静态和动态) 可调维护和校准间隔,多种测量站配置可使用自定义应用,多种选项,提高系统灵活性。各种用户权限级别,避免设备被滥用,避免未授权人员使用。
  • 咨询热线:0512-6258 7980
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